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| 低溫試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)述 |
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| 時(shí)間：2013/4/28 7:50:15 |
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由中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)出版的電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法（標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T2423.1）,此低溫試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC 68-2-1《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：寒冷》及其第一次補(bǔ)充文件IEC68-2-1A。
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，適用于非散熱和散熱的電工電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品）的低溫試驗(yàn)。
低溫試驗(yàn)箱可模擬各個(gè)不同階段的寒冷工況，廣泛適用于各行各業(yè)的產(chǎn)品出廠檢測(cè)及市場(chǎng)投放決擇，但本標(biāo)準(zhǔn)僅限于用來(lái)考核或確定電工、電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，而不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力，這時(shí)應(yīng)當(dāng)采用GB2423.22《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法》即我們?cè)跇I(yè)內(nèi)常說(shuō)的溫速快速變化試驗(yàn)箱（溫度快速變化試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)要求又分為線性和非線性），其它行業(yè)對(duì)此標(biāo)準(zhǔn)中制定的試驗(yàn)檢測(cè)項(xiàng)目?jī)H以參考為主，本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)方法通常用在條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)時(shí)，是將具有室溫的試驗(yàn)樣品投入試驗(yàn)，當(dāng)試驗(yàn)樣品實(shí)際上是和某種特定的安裝架一起使用時(shí)，則試驗(yàn)時(shí)應(yīng)應(yīng)使用這些安裝架（我們業(yè)內(nèi)稱為“樣品架”，現(xiàn)低溫試驗(yàn)箱系列產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的樣品架都是竄孔隔板式的，根據(jù)用戶被測(cè)樣品的大小可以另外定制）。 |
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